打印 / 电子邮件 / 分享

学校成功举办第七届国际测试自动化与仪器仪表学术会议

2018/07/23

  7月18日-20日,由北京信息科技大学和中国仪器仪表学会共同主办的第七届国际测试自动化与仪器仪表学术会议(ISTAI’ 2018)在大连成功举办,来自多个国家和国内相关高校、科研院所的220余人参加了会议。本次会议由我校现代测控技术教育部重点实验室、中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会、机电系统测控北京市重点实验室等共同承办,同时,会议还得到了IET、大连交通大学、《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、《电子测量技术》等单位的大力支持。

  校党委副书记、校长王永生担任本次会议的名誉主席,并在开幕式上致辞,祝贺会议圆满召开。副校长许宝杰担任会议主席并主持了开幕式,现代测控技术教育部重点实验室主任徐小力担任会议执行主席。中国仪器仪表学会副理事长吴朋到会祝贺。

  这次会议是仪器仪表与测量领域召开的一次重要的科学盛会,会议以“智能化助推测控技术的新发展”为主题,为自动化测试及相关领域的科研人员和工程技术人员提供了沟通交流的机会,搭建了展示领域内最新研究成果与进展的平台。来自中国、美国、英国、瑞典、澳大利亚、爱尔兰等国家的特邀专家做了精彩的主题报告,我校相关学科的教师分别主持了大会设立的3个分会场(测控技术与智能仪器,机器人和智能技术,信息获取、处理、通信和微波应用)。共有来自中国科学院、北京航空航天大学、上海大学、武汉大学、厦门大学、中国石油大学、电子科技大学、北京信息科技大学等单位的36位专家学者进行了会议交流,124篇论文进行了公开展示交流。会议还进行了优秀论文的评选,论文集将由“The Institution of Engineering and Technology”出版发行并EI检索。(供稿:现代测控技术教育部重点实验室)

联系我们  版权声明  商标

Copyright © 2012 北京信息科技大学信息网络中心。任何技术问题请联系webmaster@bistu.edu.cn

京公网安备:110402430033